HP系列四探针探头
适用范围可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜&;&;等同类物质的薄层电阻类型HP系列四探针探头品牌/商标卓乐康型号/规格探针间距HP系列四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜&;&;等同类物质的薄层电阻。<>◆特性及规格：1
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